“高精度数字化激光干涉仪关键技术”鉴定会在我校成功召开

2019年10月24日，由中国仪器仪表学会组织的“高精度数字化激光干涉仪关键技术”项目鉴定会在上海理工大学成功举行。本项目是由上海理工大学、苏州慧利仪器有限责任公司和苏州维纳仪器有限责任公司共同完成。

 鉴定会在上海理工大学举行

      本次鉴定会的特点是高规格和国际化，首次由国内外院士和同行专家共同评审的一次国际性鉴定会。鉴定委员会专家由中国工程院院士庄松林、中国工程院院士李同保、中国工程院院士姜会林、中国工程院外籍院士和澳大利亚两院院士顾敏、中国计量科学研究院院长方向、上海光学精密机械研究所书记邵建达、德国联邦物理技术研究所主任Gerd Ehret、英国南安普顿大学教授John Mcbride、深圳大学教授彭翔、德国斯图加特大学主任Pedrini Giancarlo组成。 

中国仪器仪表学会副理事长吴幼华和主任燕泽程组织鉴定会

上海理工大学副校长刘平致欢迎辞

中国工程院院士李同保主持鉴定会